<var id="p2imu"><output id="p2imu"><video id="p2imu"></video></output></var>
      <sub id="p2imu"><code id="p2imu"><label id="p2imu"></label></code></sub>
      <table id="p2imu"><cite id="p2imu"><u id="p2imu"></u></cite></table>

      <input id="p2imu"></input>

      <xmp id="p2imu"><code id="p2imu"><label id="p2imu"></label></code></xmp>
    1. <var id="p2imu"></var>

        <table id="p2imu"><code id="p2imu"></code></table>


        客服熱線:18680281884

        最新發表

        企業信息

          18680281884

          廣州至一科技有限公司

          廣州市黃埔區水西路197號1126室

          info@to-one.com.cn

        資訊動態 首頁 > 新聞中心 > 技術交流

        FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

        作者:至一科技 日期:2021-01-03 點擊:2698
        一鍵分享

        FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

        ArisMD300主動隔振系統


        背       景:應用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡成像檢測,是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。

        使用單位:廈門稀土材料研究所

        地      點:福建省廈門市集美區兌山西珩路258號

        儀器型號:FEI Apreo S LoVac

        隔振方案:ArisMD300主動隔振系統


        ARISMD300主動隔振臺.jpg

        廈門稀土研究所賽默飛Spreo S SEM01.jpg

        FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動隔振系統應用安裝圖

        成像測試:

        Spreo S SEM成像圖01.jpg

        Spreo S SEM成像圖02.png

        Apreo S 電鏡掃描圖像65萬倍對比(安裝ArisMD300前后)

        国产成人精品日本亚洲777
        <var id="p2imu"><output id="p2imu"><video id="p2imu"></video></output></var>
          <sub id="p2imu"><code id="p2imu"><label id="p2imu"></label></code></sub>
          <table id="p2imu"><cite id="p2imu"><u id="p2imu"></u></cite></table>

          <input id="p2imu"></input>

          <xmp id="p2imu"><code id="p2imu"><label id="p2imu"></label></code></xmp>
        1. <var id="p2imu"></var>

            <table id="p2imu"><code id="p2imu"></code></table>